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AEC-Q200认证高温储存试验要求
发表时间:2023-11-18 14:07:52
AEC-Q200认证的环境试验条件,主要是依据MIL-STD-202与JEDEC22A-104规范来制定的,不同的零件除了试验温度不一样之外,其施加电源(电压、电流、负载)要求也会有所不同,高温储存属于不施加偏压与负载的环境试验。Delta德尔塔仪器提供符合AEC-Q200认证的电子电气元器件安规检测设备,接下来为大家介绍AEC-Q200认证高温储存试验要求。


AEC-Q200认证高温储存试验依据标准

电子及电气元件试验方法 MIL-STD-202H:2015 Method 108

AEC-Q200认证高温储存试验要求

1. 薄膜电容、网络低通滤波器、网络电阻、热敏电阻、可变电容、可变电阻、陶瓷共鸣器、EMI干扰抑制器、EMI干扰过滤器:85℃/1000h;
2. 电感、变压器、电阻:125℃/1000h;
3. 变阻器:150℃/1000h;
4. 钽电容、陶瓷电容、铝电解电容:最大额定温度/1000h。

车规被动元件AEC-Q200认证测试要求

1. 每个环境应力测试项目前后都要进行电参数测试,特别要求除外。
2. 1000小时的长时间老化测试会额外增加250,500,1000小时几个阶段。
3. 一般电参数测试会是在室温状态(25±5℃)下进行,应力测试完成后24±4小时内进行。
4. 电参数测试需在客户规格书中宣称的低温,室温,高温中进行测试。
5. AEC-Q200测试的接受条件和要求参数均依据客户规格书进行判定,所有测试只接受零失败。